<center id="mici5"></center>

        <center id="mici5"></center>
        <tr id="mici5"></tr>
      1. <tr id="mici5"></tr>
      2. <th id="mici5"><sup id="mici5"></sup></th>
        <center id="mici5"></center>

        1. <tr id="mici5"></tr>
          您的位置:首頁- 解決方案- TO老化測試

          TO老化測試

          /cn/index_766.aspx

          普賽斯針對TO老化 測試分選有完備的測試方案,完美支持發端DFB/TEC-DFB/EML TO的老化測試分選,需要老化的APD端的老化測試分選以及不需要老化的PIN-TIA測試分選。能夠實現全流程的效率匹配以及數據庫統一,極大的減少了員工數量要求以及設備數據庫,網絡維護的要求。能夠有效的提升TO生產的效率和可靠性。具體的生產方案如下。

          LD TO老化測試分選解決方案

          APD-TIA TO老化測試分選解決方案

          PIN-TIA TO測試分選方案


          方案特點


          1. LD/APD盤測機LD/APD老化設備,老化板相互兼容。整個過程不需要重新插拔物料

          2. LD盤測LD老化設備,均支持軟件任意封裝的引腳切換。能夠實現一個老化板,兼容多種不同封裝的TO,節省老化板的費用

          3. LD盤測設備,支持高溫測試,有效滿足25G工業級TO的測試要求

          4. LD/APD老化設備最高支持3072 PCS老化規模

          5. 老化和測試系統都具備完備的數據管理系統,支持本地數據庫,遠程SQL數據庫。數據庫之間數據相互關聯,能夠有效支持后端自動分選工藝數據要求

          6. PIN-TIA測試分選一體機專門針對不做老化的PIN-TIA器件,支持封帽料盒以及輸出塑料收納盒。直接完成封帽到出貨之間的所有工藝流程。極大提高效率和生產自動化水平


          方案詳情

          測試方案

          設備名稱

          型號

          設備特點

          LD老化測試

          TO56盤測機

          PSS PAT-56-D

          支持任意引腳封裝,軟件切換腳位


          支持本地與遠程SQL數據庫
          支持MPD暗電流測試與LD反向電流測試
          豐富各種算法支持(Ith,KINK,Linearity)


          TO56高溫盤測機

          PSS PAT-56-H1


          支持任意引腳封裝,軟件切換腳位
          支持本地與遠程SQL數據庫
          支持MPD暗電流測試與LD反向電流測試
          豐富各種算法支持(Ith,KINK,Linearity)
          支持常溫和高溫測試(RT+20~95°C)


          EML TO盤測機

          PSS PAT-56-EML


          支持DFB/EML/SOA-EML/TEC-DFB TO測試
          支持任意引腳封裝,軟件切換腳位
          支持本地與遠程SQL數據庫
          支持MPD暗電流測試與LD反向電流測試
          豐富各種算法支持(Ith,KINK,Linearity)
          支持ACR/焦距測試


          LD集成式老化系統

          PSS LDBI3002


          支持3072老化規模,最高支持250mA電流
          支持任意引腳封裝,軟件切換腳位
          支持本地與遠程SQL數據庫
          支持實時LD電壓,Im讀取功能
          支持Ith(背光)測試功能,可提供多次對比測試結果以及合格判定條件設置
          支持MES系統接口


          APD老化測試

          TO46盤測試機

          PSS PAT-46-D


          支持APD/PIN-TIA器件,任意引腳封裝,軟件切換腳位
          支持本地與遠程SQL數據庫
          支持APD/PIN Idark測試
          支持調制光模式下D+/D-的動態波形測試


          APD集成式集成式老化系統

          PSS APDBI3001


          支持3072老化規模,APD老化電流最高可到2mA
          支持任意引腳封裝,軟件切換腳位
          支持本地與遠程SQL數據庫
          支持實時APD電壓,TIA電流讀取功能
          支持MES系統接口


          PIN-TIA測試分選

          探測機組件測試分選一體機

          PSS RTP2101

          支持封帽料盒進料,塑料收納盒出料


          支持客戶自定義的分BIN篩選
          完善的圖像識別處理,有效識別管腳位置并分腳,插料
          支持PIN-TIA/APD-TIA各種測試指標,包括調制光模式下D+/D-的動態波形測試
          全自動,無人值守,UPH=550(典型值,需要測試RES耦光),UPH=800(典型值,不耦光)



          • 027-89908766 027- 86638669

          • pss@whprecise.com
          • 武漢東湖開發區 光谷大道308號 光谷動力綠色環保產業園 9棟4樓

          微信公眾號

          Copyright ? 2017 武漢普賽斯電子技術有限公司.鄂ICP備17029825號-1 All Rights Reserved. 公安機關備案號42011502000463

          九九线精品视频在线观看视频,亚欧美日韩香蕉在线播放视频,亚洲精品中文字幕无码专区,日本免费无限吗2021芒果软件